產品資料

                大面積鍍膜玻璃離線表面掃描光電檢查

                如果您對該產品感興趣的話,可以
                產品名稱: 大面積鍍膜玻璃離線表面掃描光電檢查
                產品型號: ARGUS
                產品展商: ZEISS
                產品文檔: 無相關文檔

                簡單介紹

                大面積鍍膜玻璃離線表面掃描光電檢查 ARGUS大面積鍍膜玻璃離線表面掃描光電檢查設備,測量儀器已安在多滾軸平臺上,快速掃描地檢查透光率、反射率、鍍膜厚度、顏色值差異和面電阻值。離線檢查,可作來料、成品檢查、半成品抽樣檢查。


                大面積鍍膜玻璃離線表面掃描光電檢查  的詳細介紹
                ARGUS大面積鍍膜玻璃離線表面掃描光電檢查
                測量玻璃鍍膜透光率反射率鍍膜厚度顏色值差異面電阻值
                產品簡介
                ARGUS大面積鍍膜玻璃離線表面掃描光電檢查設備,測量儀器已安在多滾軸平臺上,快速掃描地檢查透光率、反射率、鍍膜厚度、顏色值差異和面電阻值。離線檢查,可作來料、成品檢查、半成品抽樣檢查。
                產品詳介
                ARGUS³© 5.7大面積鍍膜玻璃離線表面掃描光電檢查設備,專門為大面積鍍膜玻璃檢查而設,可處理*大面積2200 x 2600mm 及*大厚度6mm,測量儀器已安在多滾軸平臺上,手動平放上玻璃在平臺上,可手動選擇或自動按已電腦選定的檢查點,*快以每兩秒一個點續點光譜讀數,而電阻則每4秒一個讀數。
                檢測功能包括:透光率、反射率、鍍膜厚度、顏色值差異和面電阻值。設備包含一或兩個光譜儀CORONA PLUS、光學鏡頭,電阻四針探頭。所有測量頭橫向移動,玻璃由滾軸轉向帶動向前,軟件按要編制,可與其他軟件互接吻,例如:TopFilm©。ARGUS掃描軟件提供快速數據處理,快速分析,可靠性高,可直接用于計算鍍膜厚度及疊層分析。直接輸出至試算表如:EXCEL。
                ARGUS軟件輸出:鍍膜厚度、光譜曲線、分析結果曲線(可作調整)、面電阻值、分析結果。
                其他功能:掃描路線設計(帶預設標淮路線圖),網絡聯線,預設分析標準曲線圖。報告可作數據跟蹤,符合ISO9000要求。
                特性:
                光譜設備:
                1.      橫闊度            - 約3900mm
                2.      掃描的速度      - 每小時1800點
                3.      決長范圍        - 400-1680nm
                4.      精度               - 波長< 0.05 nm
                - 透射率< 0.1 % T
                - 反射率< 0.1 % R
                面電阻設備:
                5.      掃描的速度      - 每小時900點
                6.      測量電阻范圍   - 10 mΩ - 100 Ω ohms
                7.      準確度            - ±3 % absolute, ± 1 % relative
                8.       靈敏度            - ≤ 1%
                9.       位置準確度      - ± 5 mm absolute
                10.    位置精度         - ± 1 mm

                ARGUS³© 5.7 is a surface inspection system for measuring and displaying optical and electrical properties of large-surface areas of coated substrate. The system can determine the transmission, reflection, coating thickness, color values and the electrical resistance of the coating. The maximum sample size is 2200 x 2600 mm and the maximum thickness 6 mm.

                The ARGUS³© 5.7 inspection system is equipped with an state-of-the-art spectrometer for analyzing the light transmitted and reflected by the sample and a Keithley source meter for measuring the resistance present on the four-point measuring head. All measuring heads are moved by the Traverse. The sample will be transported by the roller table. These components and tailormade software packages, like TopFilm© and ARGUS software enable the fast and reliable analysis of the electrical and optical properties of the coated glass substrates.

                ARGUS³© 5.7 平面鍍膜玻璃光電檢測系統

                主要功能是測
                The maximum sample size is 2200 x 2600 mm and the maximum thickness is 6 mm

                Optical measuring system: (光學測量規格)

                • Up to 1800 points per second for optical measurement(measuring range from 400 to 1680nm)
                • Up to 900 points per second for optical measurement (measuring range from 400 to 1680nm) and resistance measurement
                • Measurement spot size approx. 10 mm
                   
                • Medium spectral pixel spacing 3.3 nm
                • Wave length accuracy ±1 nm above the wavelength range - 透射 / 反射光譜值
                • Photometric measuring range 0.2 - 100 %
                • Reproducibility Y, L*, Δa*, Δb*: ± 0.1 %
                • Complete spectral range: ± 0.5 %
                • Color calculation Y, L*, a*, b* (CIELAB) - 顏色值
                • Light sources A, B, C, D50, D55, D65, D85, D75, F2, G, P TL84,Xe
                • Standard observation 2°; 10°
                • Measurable coating thickness Coatings >50 nm with > 20 % transmission - 薄膜厚度

                Resistance measurement: (阻力測量規格)
                • Up to 900 points per second
                • Measurement diameter approx. 10 mm
                • Measuring range 10 mΩ - 5 kΩ resistance - 電阻值
                • Peak radius 150 μm
                • Load per needle 100 g
                • Clearance between probe tips 1 mm
                • Accuracy ± 3 % absolute ± 1 % relative
                • Sensitivity ≤ 1 %
                • Measuring current 1 mA, 10 mA, 100 mA or 500 mA
                • Measurement counter Records the number of measurements (must be reset after being replaced)
                • Stability X-Y movement of the sensor <20 μm when penetrating the substrate
                • Position accuracy ± 5 mm
                • Reproducibility ± 1 mm

                Glass dimensions:

                • Width - min.750 max.2200 mm
                • Length - min. 750 max. 2600 mm
                • Thickness - min.3 max.6 mm



                 

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